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Bessere Farbkontrolle im Offsetdruck

Donnerstag 06. April 2000 - Die Firma X-Rite stellt auf der Drupa ein neues Spektraldensitometer für die Farbkontrolle in Proof und Offsetdruck vor.

Das Modell 520 bietet neben farbmetrischen Meßfunktionen wie CieLab und Delta-E wechselbare Meßblenden von 1,6 – bis 6 mm sowie wechselbare Polarisationsfilter. Es verfügt über die Möglichkeit zur Eingangskontrolle von Papieren und Druckfarben nach der neuen ISO-Farbskala und zur farbmetrischen Kontrolle von Übereinanderdrucken.

Das neue Meßgerät eignet sich, in Verbindung mit entsprechender Software, für die Herstellung von ICC-Profilen und für die Kontrolle der Graubalance. Es kann außerdem bei steigenden Anforderungen wie der Kontrolle von Sonderfarben bis zum vollwertigen Spektralphotometer aufgerüstet werden.

www.x-rite.de
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